安檢門對(duì)金屬物的探測(cè)能力檢驗(yàn)

選擇同一金屬樣品對(duì)安檢門進(jìn)行探測(cè)，漏報(bào)越小越好。

常規(guī)安檢門應(yīng)能對(duì)所有的金屬進(jìn)行探測(cè)（特種設(shè)計(jì)的探測(cè)器除外），都能通過《GB15210-2003》國標(biāo)中關(guān)于“靈敏度”標(biāo)準(zhǔn)的嚴(yán)格檢驗(yàn)。我們選擇探測(cè)的金屬樣品最好包含在國家標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)。

金屬信號(hào)檢測(cè)能力是表現(xiàn)一個(gè)金屬探測(cè)器生產(chǎn)廠家技術(shù)力量的標(biāo)志，技術(shù)好的廠家對(duì)有色金屬和黑色金屬都能進(jìn)行同樣的探測(cè)，并且在穩(wěn)定性好的條件下能對(duì)更小的金屬進(jìn)行探測(cè)，靈敏度控制很清楚。而品質(zhì)差的安檢門如果把靈敏度稍調(diào)高時(shí)，沒帶什么東西通過都亂報(bào)警，靈敏度稍調(diào)低一點(diǎn)，就要很大金屬物通過才能報(bào)警。這類安檢門是由于內(nèi)部電路設(shè)計(jì)性能低劣，控制不線性的原因引起，不能采用。

另外由于電磁波存在方向性，因此對(duì)金屬物探測(cè)也存在方向性，對(duì)切割電磁波最多的面產(chǎn)生信號(hào)相應(yīng)就強(qiáng)，對(duì)切割電磁波最少的面產(chǎn)生信號(hào)相應(yīng)就弱。技術(shù)優(yōu)秀的生產(chǎn)企業(yè)能對(duì)磁場(chǎng)的方向性作均化處理，因此在安檢門同一探測(cè)區(qū)內(nèi)探測(cè)金屬物各個(gè)方向效果差異不大；如果差異較大，則漏報(bào)越大，故用戶應(yīng)選擇方向性探測(cè)均化效果好的產(chǎn)品。

選用同一種金屬物由測(cè)試人攜帶從安檢門的各個(gè)區(qū)位通過，并且在各個(gè)區(qū)位把金屬物以不同的方向通過，選擇漏報(bào)少的產(chǎn)品。對(duì)于要排除小的金屬，需要探測(cè)較大的金屬時(shí)把靈敏度調(diào)節(jié)至合適位置即可，試驗(yàn)方法同上。